Harold F. Dodge

Harold French Dodge (23 de enero de 1893 en Lowell, Massachusetts – 10 de diciembre de 1976) fue uno de los principales arquitectos de la ciencia del control estadístico de la calidad. Su padre fue el fotógrafo William H. Dodge. Harold Dodge es conocido universalmente por su trabajo en la creación de planes de muestreo de aceptación para dar a las operaciones de inspección una base científica en términos de riesgos controlables. Dodge obtuvo su licenciatura en ingeniería eléctrica en el MIT en 1916 y su maestría en física en la Universidad de Columbia en 1917.

De 1917 a 1958 trabajó en el departamento de control de calidad de los Laboratorios Bell con Walter Shewhart, George Edwards, Harry Romig, R. L. Jones, Paul Olmstead, E.G.D. Paterson y Mary N. Torrey. En esa época se desarrollaron los conceptos básicos del muestreo de aceptación, como:

• Riesgo del consumidor
• Riesgo del productor
• Doble muestreo
• Lot tolerance percent defective (LTPD)
• Límite medio de calidad saliente (AOQL)

También originó varios tipos de:

• Planes de muestreo de aceptación
• Planes de muestreo continuo tipo CSP
• Planes de muestreo de cadena
• Planes de muestreo de Skip-lot

Durante la Segunda Guerra Mundial, Dodge tenía una oficina en el Pentágono y trabajó como consultor del Secretario de Guerra, de la NASA y de la Corporación Sandia. También fue presidente del Comité de Guerra Z1 de la Asociación Estadounidense de Normas (ahora Instituto Nacional Estadounidense de Normas), que preparó las normas de control de calidad Z1.1, Z1.2 y Z1.3.

Después de jubilarse de Bell Labs en 1958, Dodge se convirtió en profesor de estadística matemática aplicada en Rutgers.

La Sociedad Estadounidense de Pruebas y Materiales honra la memoria de Harold Dodge con el premio Harold F. Dodge.

• http://www.asq.org/about-asq/who-we-are/bio_dodge.html